X荧光光譜儀 測量精度高

X荧光光譜儀可對固體、粉末、液體、懸浮物、過濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進行定性、定量剖析，元素局限13Al-92U，含量局限ppb至，檢出限到2pg，X荧光光譜儀在無損檢測方面，具有其他剖析技能無法比較的長處，應用X射線光譜儀掃描辦法探測土壤表層下面的是元素是X射線無損檢側技能的一個主要使用範疇。

X荧光光譜儀是一種無損的，應用廣泛的光譜分析儀器，X荧光光譜儀由激發源和探測系統構成，X射線管產生入射X射線，激發被測樣品，受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，並且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。

X荧光光譜儀是一種的、非破壞式的物質測量方法，X射線荧光是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線，這種現象被廣泛用于元素分析和化學分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材的調查和研究，地球化學，法，考古學和藝術品，例如油畫和壁畫。

X荧光光譜儀根據其分光原理不同分成波長色散型X荧光光譜儀（波譜儀，WDXRF）和能量色散型X荧光光譜儀（能譜儀，EDXRF），我們通常所說的X荧光光譜儀就是指波長色散的儀器，X荧光光譜儀可對固體、粉末、液體、懸浮物、過濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進行定性、定量剖析，元素局限13Al-92U，含量局限ppb至，檢出限到2pg。

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