镀層無損分析儀 安全性能好 穩定性好 無損檢測

镀層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線荧光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁琐，速度慢，多適用于抽樣檢驗。
X射線和β射線法是無接觸無損測量，測量範圍較小，X射線法可測薄镀層、雙镀層、合金镀層。β射線法適合镀層和底材原子序號大于3的镀層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。
镀層測厚儀有兩種開機使用方法。一種是探頭在測試過程中自動觸發開機，並且直接顯示出測量結果。這是因爲采用了數字探頭，非常的靈敏，會自動識別出測量基材，並且自動轉換。
還有一種是按鍵開機。開機儀器會顯示探頭型號，兩種不同量程的探頭可供客戶選擇。

镀層測厚儀采用了電渦流原理以及霍爾效應測量的原理。主要用于測量金屬以及非金屬等基體上的油漆層、電镀層等非磁性材料的厚度。可以無損的測量出塗镀層的厚度。
廣泛應用在電镀、噴塗、管道防腐、鋁型材、鋼結構、印刷線路版、及絲網印刷等行業中。特別適合用于生產現場的質量管控。

镀層測厚儀因爲采用的是主機與探頭分離式的設計，所以在購買時有兩個不同量程的探頭可以選擇。F5N3的探頭，大量程厚可以測到5mm，F3N3的探頭，厚可以測到3mm。
在測量以mm爲單位的镀層厚度時，大量程的镀層測厚儀LS223就可以滿足您的測量需求。客戶在選購時可以根據測量材料的厚度來選擇相應的探頭。镀層測厚儀90天無理由退換貨，不滿意都可以退。

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